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IPFA 2009IEEE國際半導體失效分析與可靠性大會(huì )
日期：2025-06-06 15:43
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摘要：
IPFA 2009IEEE國際半導體失效分析與可靠性大會(huì )
IPFA 2009IEEE國際半導體失效分析與可靠性邀請函在科技日益更新的當今社會(huì )，產(chǎn)品的失效分析和可靠性日漸被關(guān)注，產(chǎn)品出現可靠性與質(zhì)量問(wèn)題后要進(jìn)行專(zhuān)業(yè)的失效分析才能幫助產(chǎn)品有更好的品質(zhì)提升，因此涌現出對失效分析與可靠性高水平技術(shù)人才的大量需求。
IPFA是半導體領(lǐng)域失效分析與可靠性的國際**會(huì )議。為培養失效分析與可靠性技術(shù)人才，滿(mǎn)足國內外半導體方面專(zhuān)業(yè)人員技術(shù)提高的愿望，建立國際相關(guān)行業(yè)信息與技術(shù)交流平臺，解決相關(guān)企業(yè)遇到失效分析與可靠性問(wèn)題時(shí)的疑點(diǎn)和盲區、打破理論與實(shí)際脫鉤的窘境、達到失效現象與失效原因直接掛鉤、提高產(chǎn)品可靠性的效果，我們特決定在蘇州舉辦此次面向國際的IEEE國際半導體失效分析與可靠性培訓。
本次培訓特別邀請15位來(lái)自中、美、歐洲、新加坡、日本及亞太其他各國及地區專(zhuān)家作培訓講座與技術(shù)交流，具體事宜通知如下：
時(shí)間：2009年7月6日-10日蘇州獨墅湖高教區
參加對象：失效分析工程師、可靠性工程師、研發(fā)與工程技術(shù)人員、質(zhì)量工程師、工藝工程師、制造工程師、設計工程師、供應商管理工程師、研發(fā)/工程/采購/質(zhì)量經(jīng)理、研究員、相關(guān)專(zhuān)業(yè)教授、博士生、研究生等。
承辦執行單位：華碧檢測（FA LAB）
承辦執行**協(xié)助單位：北京懷遠文化傳媒有限公司
培訓證書(shū)：IEEE IPFA2009技術(shù)委員會(huì )培訓證書(shū)/中國電子電器可靠性工程協(xié)會(huì )培訓證書(shū)
注：IPFA2009介紹
第16屆IEEE國際集成電路物理與失效分析會(huì )議（IPFA2009）由IEEE南京分會(huì )主辦，IEEEReliability/CPMT/ED新加坡分會(huì )協(xié)辦、由IEEE 電子器件協(xié)會(huì )與IEEE可靠性協(xié)會(huì )提供技術(shù)支持。IPFA2009是在中國舉辦的有關(guān)集成電路與器件方面規模*大、影響*大的國際會(huì )議。會(huì )議將為期五天，包括兩天的技術(shù)培訓講座、三天的論文發(fā)表與研討技術(shù)交流，同時(shí)并行三天的設備展覽。
注:詳細內容和報名表請郵件或電話(huà)索取資料.
如果您需要咨詢(xún)，請聯(lián)系IPFA 2009組委會(huì )秘書(shū)處，郵箱：hywh@ceeacea.org.cn 或者致電010-67642668，010-52259806. 歡迎登陸網(wǎng)址：http://www.ceeacea.org.cn 以寄信日期，發(fā)送郵件或傳真日期為準。
